■科學家展示無標記超分辨率顯微技術
來自奧地利格拉茨大學的研究人員近日開發(fā)了一種新的測量和成像方法 ， 可在不需要任何染料或標簽的情況下解析小于光衍射極限的納米結構 。 這種激光掃描顯微鏡新方法彌補了傳統(tǒng)顯微鏡和超分辨率技術之間的差距 ， 有朝一日或可被用來觀察復雜樣品的精細特征 。 在國際光學出版集團的高影響力期刊《光學》上描述的這種新方法 ， 是對激光掃描顯微鏡的改進 ， 它使用強聚焦激光束照射標本 。 研究人員擴展了這項技術 ， 不僅可以測量光與被研究標本相互作用后的亮度或強度 ， 還可以檢測光場中編碼的其他參數(shù) 。 （財聯(lián)社）
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