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IT之家 5 月 29 日消息 , 半導體行業花了十多年的時間來準備極紫外線 (EUV) 光刻技術,而新的高數值孔徑 EUV 光刻(High-NA EUV)技術將會比這更快 。

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目前 , 最先進的芯片是 4/5 納米級工藝,下半年三星和臺積電還能量產 3nm 技術 , 而對于使用 ASML EUV 光刻技術的 Twinscan NXE:3400C 及類似系統來說 , 它們大都具有 0.33 NA(數值孔徑)的光學器件,可提供 13 nm 分辨率 。
目前來看 , 這種分辨率尺寸對于 7 nm / 6 nm 節點 (36 nm ~ 38 nm) 和 5nm (30 nm ~ 32 nm) 的單模已經足夠用了,但隨著間距低于 30 nm(超過 5 nm 級的節點)到來,13 nm 分辨率可能需要雙重曝光技術,這是未來幾年內的主流方法 。
對于后 3nm 時代,ASML 及其合作伙伴正在開發一種全新的 EUV 光刻機 ——Twinscan EXE:5000 系列,該系列機器將具有 0.55 NA(高 NA)的透鏡 , 分辨率達 8nm,從而在 3 nm 及以上節點中盡可能的避免雙重或是多重曝光 。
IT之家了解到,目前三星和臺積電的技術均可采用單次曝光的 EUV 技術(NXE 3400C),但是當節點工藝推進到 5nm 處時 , 則需要引入雙重曝光技術 。對于各大晶圓代工廠來說,其主要的目標就是盡可能的避免雙重或是多重曝光 。
當然,我們現階段 193nm 浸入式的 DUV 通過多重曝光也能夠實現 7nm 工藝,這同樣也是臺積電早期7nm 所用的技術 , 但是這種技術更顯復雜,對良率、設備、成本等都提出了很大的挑戰,這同樣也是現行的 EUV 技術對比 DUV 的最大優點 。
自 2011 年開始,在芯片的制備中開始采用 22nm 和 16nm / 14nm 的 FinFET 晶體管結構 。該結構有點是速度快,能耗低 。但是缺點也很明顯,制造困難成本過高 。也正是因為此,對節點工藝的提升從以前的 18 個月延長到了 2.5 年或更長的時間 。對于更微小的晶體管結構,光刻中光罩(掩膜)上的納米線程結構也變得密集化,這逐漸超越了同等光源條件下的分辨率,從而導致晶圓上光刻得到的結構模糊 。因此 , 芯片制造商開始轉向多重曝光技術,將原始的掩膜上的微結構間距放寬 , 采用兩個或多個掩膜分布進行曝光,最終將整套晶體管刻蝕到晶圓上 。
雖然 ASML 計劃在明年制造出下一代 High-NA光刻機的原型機,但這畢竟是集全球尖端產業之大成的產物,它們非常復雜、非常龐大且昂貴 —— 每臺的成本將超過 4 億美元 , 光運送就需要三架波音 747 來裝載 。
此外,High-NA 不僅需要新的光學器件,還需要新的光源材料,例如德國蔡司 (Carl Zeiss) 在真空中制造的一個由拋光、超光滑曲面鏡組成的光學系統,甚至還需要新的更大的廠房來容納這種機器,這都將需要大量投資 。

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但為了保持半導體的性能、功率、面積和成本(PPAc)等方面的優勢,已經領先的制造商們依然愿意掏錢去用新技術,而這種技術對于后 3nm 等至關節點具有重要意義 。因此 , 無論是已經下定的英特爾,還是三星、臺積電,對它的需求都是非常之高 。
幾周前 , ASML 披露其在 2022 年第一季度的財報,稱其已經收到了多個客戶的 High-NA Twinscan EXE:5200 系統 (EUV 0.55 NA) 訂單 。
據路透社報道 , ASML 上周澄清說 , 他們已經獲得了 5 個 High-NA 產品的試點訂單,預計將于 2024 年交付,并有著“超過 5 個”訂單需要從 2025 年開始交付的具有“更高生產率”的后續型號 。
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